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金屬材料的失效形式及失效原因密切相關(guān)，失效形式是材料失效過程的表觀特征，可以通過適當?shù)姆绞竭M行觀察。而失效原因是導(dǎo)致構(gòu)件失效的物理化學(xué)機制，需要通過失效過程調(diào)研研究及對失效件的宏觀、微觀分析來診斷和論...
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廣電計量腐蝕機理與疲勞測試第三方專業(yè)檢測機構(gòu)為軌道交通、電廠、鋼鐵設(shè)備生產(chǎn)廠、經(jīng)銷商或代理商提供交流阻抗，極化曲線，電化學(xué)噪?，疲勞試驗。
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材料及其制品都是一在一定溫度環(huán)境下使用的，在使用過程中，將對不同的溫度做出反應(yīng)，表現(xiàn)出不同的熱物理性能，即為材料的熱血性能。材料的熱學(xué)性能主要包括熱容、熱膨脹、熱傳導(dǎo)、熱穩(wěn)定性等。廣電計量可針對性研究...
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廣電計量半導(dǎo)體材料微結(jié)構(gòu)分析與評價CNAS認可提供半導(dǎo)體材料微結(jié)構(gòu)分析與評價服務(wù),提供半導(dǎo)體材料元素成分分析,結(jié)構(gòu)分析,微觀形貌分析測試服務(wù)，CNAS資質(zhì)認可,幫助客戶全面了解半導(dǎo)體材料理化特性。
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電子元器件失效分析經(jīng)常用到的檢查分析方法簡單可以歸類為無損分析、有損分析。有損分析就是對器件進行各種微觀解剖分析，其首要要求就是在避免人為損傷的前提下，展現(xiàn)內(nèi)部缺陷形貌。
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廣電計量表面絕緣電阻（SIR）測試全國6大專項實驗室可以評估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質(zhì)，通過...
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雙束掃描電子顯微鏡（DB-FIB）是將聚焦離子束和掃描電子束集成在一臺顯微鏡上，再加裝氣體注入系統(tǒng)（GIS）和納米機械手等配件，從而實現(xiàn)刻蝕、材料沉積、微納加工等許多功能的儀器。廣電計量雙束掃描電子顯...
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廣電計量軌道交通電子元器件失效分析可加急檢測是指借助各種測試分析技術(shù)和方法確認電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機理，確認失效根因，提出設(shè)計和工藝改進建議，防止失效的重復(fù)出現(xiàn)，提高元器件可靠性...
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為全面分析和評價動車組板卡的可靠性,廣電計量板卡壽命評估與可靠性提升第三方檢測機構(gòu)通過板卡的X-ray檢測、電性能測試及壽命特征分析、壽命及加速壽命試驗、失效分析等方法對板卡的輸出性能衰減可靠性進行預(yù)...
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